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首页 > 供应产品 > LTE耦合白卡 LTE-TDD测试卡 LTE-FDD测试白卡
LTE耦合白卡 LTE-TDD测试卡 LTE-FDD测试白卡
单价 40.00 / 张对比
销量 暂无
浏览 335
发货 广东深圳市付款后24小时内
库存 999999张起订10张
品牌 华海
大卡尺寸 25*15*0.8mm
中卡尺寸 12*15*0.8mm
小卡尺寸 12.3*8.8*0.67mm
过期 长期有效
更新 2019-03-20 10:17
 
详细信息
 

LTE测试卡、4G测试卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA手G测试、TD-SCDMA测试卡、CDMA2000测试卡、手G测试卡(又称白卡),使用于通讯工业生产的信号测试(LTELong Term Evolution,长期演进)是由3GPP组织制定的UMTS技术标准的长期演进,于2004123GPP多伦多TSG RAN#26会议上正式立项并启动。LTE系统引入了OFDM和多天线MIMO等关键传输技术,显著增加了频谱效率和数据传输速率(峰值速率能够达到上行50Mbit/s,下行100Mbit/s),并支持多种带宽分配:1.4MHz,3MHz,5MHz,10MHz,15MHz20MHz等,频谱分配更加灵活,系统容量和覆盖显著提升。LTE无线网络架构更加扁平化,减小了系统时延,降低了建网成本和维护成本。LTE系统支持与其他3GPP系统互操作。FDD-LTE已成为当前世界上采用的国家及地区广泛的,终端种类丰富的一种4G标准。)。常用于LTE手G、4G手G、FDD手G、GSM手G、UIM手G、RUIM手G、CDMA2000手G、配合综合测试仪以及自己搭建的网络对手G进行无干扰综合测试;手G在生产中需要对成品进行相关信号测试,却要进行大规模屏敝,需动用更多的人力物力及测试时间,使生产工艺繁杂及成本增加,测试卡可以实现信号至仪器到手G的路径,让测试环境更加简洁,很好的解决了这一繁锁问题。测试卡可进行偶合测试,误码率测试、具有齐备的VCCRSTB,可用于终端和综测仪测试等。

二.产品适用的测试仪器的品牌:

适用安捷伦、安立、罗德、施瓦茨、星河亮点、AGILENT8960ROHDE & SCHWARZSUNLIGHTCMU200CMW500CMU55E5515CE8285AMT8820ANOISEKENFLUKETEKTRONICADVANTES等国外、国内的各种测试仪器以及各手机厂或者营运商自建的网络等。


联系人:谭小姐
电话:0755-27767766-8011
手机:18098946001
企业Q Q:2850627136
总机:0755-27767766,27767866
传真:0755-27767766-8010
邮箱:huahai06@cnhuahai.com
工厂地址:广东省深圳市宝安区石岩镇园岭大道巧通园岭工业园B栋5楼











 

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